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SG-6/SG-268光澤度計 
SWT-7000Ⅳ膜厚計 
SWT-7200Ⅳ膜厚計 
SAMAC系列膜厚計 
APA-6900針和鐵片探測器 
TRC-250A針孔探測器 

 

 

SWT-7200IV膜厚計

功能特性

可以選擇探頭以滿足最佳測量應用

液晶屏上的操作步驟指南資訊

大容量測量記憶體20000

只需調用已註冊的校準即可進行測量。

內置上限/下限值設置方法及統計功能

配備自動關機、USB數據傳輸和傾斜支架。

配備將單位轉換為「mil 的功能。

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