四點探針
快速簡單地測量薄膜的薄層電阻、電阻率和電導率。彈簧式圓形觸點可在不損壞精密樣品的情況下進行高品質的表面測量，是表徵奈米級聚合物薄膜的理想選擇。兩款型號均採用緊湊的獨立設計，可無縫融入任何實驗室環境，Plus 型號無需 PC 即可進行測量。
以 Ossila 源測量單元為核心，寬電流範圍適用於各種測量。選擇四探針，可快速可靠地進行材料表徵。
使用四點探針 Plus 進行快速測量
無需連接電腦即可表徵樣品。 Four-Point Probe Plus 內建軟體，可透過 LED 螢幕和鍵盤輕鬆控制。
此系統可以獨立測量薄層電阻，並在輸入樣品尺寸和厚度後測量其電導率和電阻率。它還能即時顯示外針之間的電流和電壓以及內針之間的電壓。對於更複雜的實驗，此型號還包含免費的PC軟體，方便您記錄數據。
配備軟接觸探頭
Ossila 四點探針配備柔軟的接觸式探針，可降低損壞精密薄膜的可能性。我們的探針尖端呈圓形（不同於其他類似尖針的探針），並且具有更大的接觸面積，半徑為 0.24 毫米。鍍金探針安裝在彈簧上，使其在接觸樣品時可縮回探針頭。這種設計分散了向下的力，並確保對樣品施加 60 克的均勻力。
電阻率和電導率範圍
由於系統測量的是樣品的薄層電阻，因此無法給出可測量電阻率或電導率的大致範圍。這是因為可測量的電阻率範圍取決於被測樣品的厚度。樣品的電阻率可以透過薄層電阻和厚度使用以下公式計算得出：
薄層電阻電阻率方程
系統能夠測量 100 mΩ/□ 至 10 MΩ/□ 之間的電阻，因此，如果我們將這些值代入上述公式，併計算厚度為 50 nm 的樣品，則系統可測量的電阻率（電導率）範圍為 5 nΩ.m 至 500 mΩ.m（2 S/m 至 200 MSm）。如果樣品厚度為 400 µm，則係統的電阻率（電導率）範圍為 40 µΩ.m 至 4 kΩ.m（250 µS/m 至 25 kS/m）。下表列出了系統在不同厚度數量級的樣品下的電阻率和電導率範圍：
Copyright (c) 2023My Company. All rights reserved.